X射线荧光光谱仪（XRF）
生产商：日本株式会社理学Rigaku（日本），型号：ZSX Primus II/IV
配备4KW（60kV-150mA）、端窗型Rh靶X射线管；分光晶体：LiF200、LiF220、PET、Ge、RX25；可分析F-U间元素：常量(%)-微量(ppm)；精密度（主、次量元素）RSD%：0.1-1.0；计数线性：闪烁计数器SC（Ti - U）为1800kcps，流气正比计数器F-PC（Be -Zn）为3000kcps；双真空室：可提高整体分析速度,保证光学系统洁净；APC功能：提高轻元素分析准确性。

XRF分析是一种常规的、无污染和非破坏性分析技术，常用于固体、粉末样品的定性和定量分析。该技术主要用于岩石、土壤、水系沉积物中37种主要、次要元素的分析。实验室面向国内外高校及科研院所等科研人员和研究生开放，可为地质与环境科学研究提供高质量的分析数据，同时可为冶金、矿业以及钢铁等行业的材料判别和定量分析提供高效服务。